(HTOL, engl.) ist ein Zuverlässigkeitstest in der Halbleiter- bzw. Mikroelektronik. Dabei werden die Halbleiterbauelemente und auch -schaltungen werden während des Testes höherer Spannung und höheren Temperatur ausgesetzt.
Manchmal wird HTOL in Begriff mit „“, „“ oder „“ zusammengebracht.AEC Documents AEC DocumentsJEDEC Standards JEDEC StandardMETHOD 1005.8 STEADY-STATE LIFE. In: MIL-STD-883G. 1. Juni 1993 (; PDF; 75 kB).Comparing the Effectiveness of Stress-based Reliability. Qualification Stress Conditions. (= Technology Transfer. #04034510A-TR) International SEMATECH, 12. April 2004 ().
Einzelnachweise
Kategorie:Werkstoffprüfung Kategorie:Halbleiterelektronik